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FAULTAP 断層シール能力予測ソフトウェア
for Windows®2000,XP(Windows MEは除く)
断層のシール評価のアルゴリズムを取り入れ開発 |
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FAULTAPは、上図中の(B)<赤丸印>について、これまで提唱されてきたシール評価の
アルゴリズムを取り入れ、また独自の観点からも断層シールの評価アルゴリズムとして確立したものを
取り入れ、開発されました。 |
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【構造解釈データの入力】
- 震探解釈ソフトウェア(SeisWorks 、GeoFrame等)の出力データのインポート機能
- マッピングソフトウェア(CPS3等)の出力データのインポート機能
- XYZデータのインポート機能
- その他については、順次追加予定
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【データの修正】
- 2次元編集画面では、断層と層準が接する部分のデータの修正を行います。
- 震探測線の表示方法は、測線を任意に指定する方法と、3次元画面から直接指定する方法があります。
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【層準、断層の3次元面の作成】
- 入力されたデータを用いて、層準、断層の3次元画面を作成することができます。このステップで入力されたデータの妥当性の評価を行うこともできます。
- 3次元画面では、マウスを使用することで、回転・拡大縮小を行うことができます。
- 鳥瞰図を作成することで、評価対象構造を可視化することができます。また、主要な断層に対して、断層シールの評価を行うことができます。
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【抗井データの入力】
- 抗井データは、GRから計算されたVshを元に、4種類(C-lean
Sand、Dirty Sand、Sandy Shale、Shale)の岩相を設定し入力します。抗跡データがあれば、それを計算することで、3次元画面で表示することができます。
- 圧力データについては、RFT等の圧力データの数値を入力することにより、自動的にグラフを作成し、データの正当性評価を行うことができます。
- 複数の抗井データを入力することができ、データが存在しない場合は、擬似抗井データを作成することができます。
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【解析パラメータ】
- 断層面の幾何学形状(落差、変位、傾斜角、ヒープ、ヘイド)の計算
- スミア・パラメータ(SSF、CCR、SGR、SMGR、CSP)の計算
- 応力の計算
- 浸透性の計算
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【結果表示例】
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上左図:断層面に任意パラメータ表示(上記:断層落差) |
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| (スミアパラメータ、応力、浸透性、断層の再活動性など多数のパラメータ表示可能) |
| 上中図:Allan Diagram表示(Juxtaposition表示) |
| (上盤、下盤ともに4種類、合計8種類の岩相の組み合わせを任意に表示可能) |
| 上右図:シールパラメータと断層面における地層圧力差のクロスプロット |
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(例:X軸に断層の落差、Y軸にSSFのように任意パラメータの関係よりクロスプロットを作成し、評価することが可能) |
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| 説明 |
税込価格
(単位/円) |
| 基本システム |
2,520,000 |
年間サポート (電話・メールによる使用方法サポート、バージョンアップ費用の割引) |
378,000 |
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