数値解析ソフトウェア

layout TOP > 数値解析ソフトウェアメニュー > FAULTAP
 

 FAULTAP 断層シール能力予測ソフトウェア 
      for Windows®2000,XP(Windows MEは除く)
                 

  断層のシール評価のアルゴリズムを取り入れ開発


 FAULTAPは、上図中の(B)<赤丸印>について、これまで提唱されてきたシール評価の アルゴリズムを取り入れ、また独自の観点からも断層シールの評価アルゴリズムとして確立したものを 取り入れ、開発されました。

【構造解釈データの入力】

  • 震探解釈ソフトウェア(SeisWorks 、GeoFrame等)の出力データのインポート機能
  • マッピングソフトウェア(CPS3等)の出力データのインポート機能
  • XYZデータのインポート機能
  • その他については、順次追加予定

【データの修正】

  • 2次元編集画面では、断層と層準が接する部分のデータの修正を行います。
  • 震探測線の表示方法は、測線を任意に指定する方法と、3次元画面から直接指定する方法があります。
 

【層準、断層の3次元面の作成】

  • 入力されたデータを用いて、層準、断層の3次元画面を作成することができます。このステップで入力されたデータの妥当性の評価を行うこともできます。
  • 3次元画面では、マウスを使用することで、回転・拡大縮小を行うことができます。
  • 鳥瞰図を作成することで、評価対象構造を可視化することができます。また、主要な断層に対して、断層シールの評価を行うことができます。

【抗井データの入力】

  • 抗井データは、GRから計算されたVshを元に、4種類(C-lean Sand、Dirty Sand、Sandy Shale、Shale)の岩相を設定し入力します。抗跡データがあれば、それを計算することで、3次元画面で表示することができます。
  • 圧力データについては、RFT等の圧力データの数値を入力することにより、自動的にグラフを作成し、データの正当性評価を行うことができます。
  • 複数の抗井データを入力することができ、データが存在しない場合は、擬似抗井データを作成することができます。

【解析パラメータ】

  • 断層面の幾何学形状(落差、変位、傾斜角、ヒープ、ヘイド)の計算
  • スミア・パラメータ(SSF、CCR、SGR、SMGR、CSP)の計算
  • 応力の計算
  • 浸透性の計算

【結果表示例】

上左図:断層面に任意パラメータ表示(上記:断層落差)
     (スミアパラメータ、応力、浸透性、断層の再活動性など多数のパラメータ表示可能)
上中図:Allan Diagram表示(Juxtaposition表示)
     (上盤、下盤ともに4種類、合計8種類の岩相の組み合わせを任意に表示可能)
上右図:シールパラメータと断層面における地層圧力差のクロスプロット
(例:X軸に断層の落差、Y軸にSSFのように任意パラメータの関係よりクロスプロットを作成し、評価することが可能)
説明 税込価格
(単位/円)
基本システム 2,520,000
年間サポート
(電話・メールによる使用方法サポート、バージョンアップ費用の割引)
378,000

  

一つ前のページへ このページの一番上へ